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主營產(chǎn)品:

光學(xué)儀器、光學(xué)材料、實驗儀器、手動工具、焊接工具、焊接材料、儀器儀表、靜電設(shè)備、靜電輔料、工業(yè)器材、氣動元件、電工電氣、測量工具、計量設(shè)備、氣動工具、電動工具、化工設(shè)備、化工輔料、點膠設(shè)備、小型設(shè)備、儲存設(shè)備、物流設(shè)備、工業(yè)安防、**防護(hù)、包裝材料、切削工具、切削材料、辦公設(shè)備、辦公文具、工裝夾具、測試治具、機械加工。設(shè)備等。

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產(chǎn)品名稱：日本OTSUKA大塚電子膜厚儀重慶代理
產(chǎn)品型號：OPTM系列
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

OPTM 是一種通過使用顯微鏡光譜測量微小區(qū)域的特定反射率來實現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析的設(shè)備。各種薄膜、晶圓、光學(xué)材料等鍍膜、多層膜厚度的無損、非接觸測量?？梢赃M(jìn)行1秒/點的高速測量。此外，它配備了軟件，即使是初次使用的用戶也可以輕松分析光學(xué)常數(shù)。銷售中心-重慶內(nèi)藤

詳情介紹：

產(chǎn)品信息

特征

膜厚測量所需的功能集成在測量頭中
使用顯微光譜法進(jìn)行高精度的反射率測量（多層膜厚度、光學(xué)常數(shù)）
每點1秒以內(nèi)的高速測量
實現(xiàn)顯微鏡下寬測量波長范圍（紫外到近紅外）的光學(xué)系統(tǒng)
區(qū)域傳感器保護(hù)機制
一個簡單的分析向?qū)?，即使是初次使用的用戶也可以進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析
配備可自定義測量順序的宏功能
也可以分析復(fù)雜的光學(xué)常數(shù)（多點分析法）
300mm載物臺兼容
支持各種自定義

可以根據(jù)樣品的形狀和位置輕松定制測量順序。

規(guī)格

類型	OPTM-A1	OPTM-A2	OPTM-A3
波長范圍	230-800 納米	360-1100 納米	900-1600nm
膜厚范圍^*1	1 納米至 35 微米	7 納米至 49 微米	16nm 至 92μm
樣本量^*2	*大200×200×17mm
光斑直徑	φ5、φ10、φ20、φ40

*以上規(guī)格適用于自動XY載物臺。

*1 薄膜厚度范圍換算為_{SiO2 。}

*2 如需 300 mm 載物臺，請聯(lián)系我們。

類型	自動XY載物臺類型	固定架式	埋頭式
外形尺寸（寬×深×高）	556×566×618mm	368×468×491mm	210×441×474mm 90×250×190mm ^*
重量	66公斤	38公斤	23 公斤 4 公斤^*
*大功耗	AC100V±10V 500VA	AC100V±10V 400VA